ДК 021:2015: 38340000-0 — Прилади для вимірювання величин (Настільний оптичний профілометр Polytec TopMap Micro.View (TMS-1400) для вимірювання 3D шорсткості поверхні або еквівалент)
Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова НАН УкраїниУкраина, м. Київ
- 2,2 млн ₴
- Измерительные инструменты